金屬箔電阻負載壽命穩(wěn)定性與溫度升高有什么關系

來源：萬利隆電子閱讀量：2000發(fā)布時間：2019-09-06

金屬箔電阻負載壽命穩(wěn)定性會受到很多影響的影響，一般金屬箔電阻的TCR與穩(wěn)定性之間存在密切的關系，尤其是一些高精密的金屬箔片電阻，在一些特殊的電子元器件中必須使用金屬箔電阻來達到電路設計，如何保持金屬箔電阻的負載壽命穩(wěn)定性是電路設計關鍵因素，因此很多工程師都在設計的時候非常重金屬箔電阻散熱性的問題。

由于金屬箔片電阻利用箔片的兩個特性來實現低TCR。鋁箔的電阻隨著溫度的升高而自然增大。金屬箔電阻的制造是為了使溫度升高引起箔片的壓縮。這使得電阻隨著溫度的升高而降低?？偟男Ч请娮桦S溫度變化很小。

金屬箔電阻容差是指實際電阻與標稱電阻的距離。例如，一家公司可能銷售的電阻廣告是100歐姆的公差為1%。這意味著其中一個電阻的實際值可以從99歐姆到101歐姆不等。鋁箔電阻的公差可低至0.001%。

金屬箔電阻與其他電阻一起使用時，特別是線繞電阻，可以在電路中引入電感和電容。這可以改變電路對頻率變化的響應方式，并在脈沖通過電阻器時產生失真。鋁箔電阻的內部形狀，特別是為了盡量減少這種影響。負載壽命的穩(wěn)定性是衡量電阻在不同負載和溫度下使用時，在一段時間內保持恒定電阻值的能力。由于他們的結構箔電阻在這方面是非常穩(wěn)定的。

目前市場上金屬箔電阻中Microhm的產品系列在市場中構成重要組成部分。在金屬箔電阻市場提供表面安裝式，如NMS2818,NMS4527,NSR系列和MPR系列，以及徑向型，包括To247型電阻，To218型電阻和MVR系列。其優(yōu)良的精度和穩(wěn)定性是由于幾個特性的結合，這是遵循金屬箔電阻的設計原則。

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