膜片電阻采用四探針與兩探針方法測試電阻差異

來源：萬利隆電子閱讀量：2000發(fā)布時間：2018-12-28

薄膜電阻在很多應(yīng)用上都應(yīng)用，在電池設(shè)備中薄膜電阻的使用非常多，可以有效的提高電池的使用率，也可以發(fā)揮電池管理系統(tǒng)中反饋電池?cái)?shù)據(jù)。通?；诒∧る娮钄?shù)值，通過線性擬合可計(jì)算出材料的真實(shí)電導(dǎo)率，為產(chǎn)品開發(fā)提供技術(shù)保障。而測試電池中的電阻器，采樣兩探與四探針測試方法最為常見，這兩種方法各有差異。

一、薄膜電阻兩針測試法

采用兩探針方法測試薄膜電阻時，測試加載壓力會對結(jié)果產(chǎn)生一定影響，一般地，測試加載壓力升高，電極膜電阻降低，達(dá)到一定值之后，測試結(jié)果與壓力無關(guān)。輥壓后極片、組裝電池后新鮮極片、以及經(jīng)歷不同循環(huán)次數(shù)的極片等在不同生命周期時，表現(xiàn)出不同阻值及測試加載壓力敏感差異，通過膜片的壓力敏感差異，可計(jì)算出不同生命周期極片的膨脹厚度變化差異，為極片及鋰電池分析的評估提供了新的測量表征方法。

二、薄膜電阻四針測試

電池中的薄膜電阻的測試有多種方法，我們最常用的是采用四探針法、單探針法；這些方法對于薄膜電阻的測量各有特點(diǎn)，但都存在諸多的不足。傳統(tǒng)四探針儀器是針對薄層金屬涂層行業(yè)發(fā)展起來，其主要用于絕緣基底表面上導(dǎo)電涂層電阻的測量。對于底層集流體導(dǎo)電性遠(yuǎn)高于涂層導(dǎo)電性的電池膜片，四探針方法測試電阻時，電子流動方向平行于集流體，而電池實(shí)際充放電工作時電子是垂直于集流體方向上傳輸?shù)模虼诉@種方法測試的電阻與實(shí)際工作情況還存在差別。

在很多時候工程師常常采用此方法將漿料涂布在非導(dǎo)體基底上測試漿料膜阻抗，通過電阻率定量分析漿料中導(dǎo)電劑的分布狀態(tài)，從而判斷漿料分散效果的好壞。薄膜電阻在電池中這兩種方法進(jìn)行測試各有差異，不夠這些方法也是最好進(jìn)行薄膜電池在電池行業(yè)中的測試手段。

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