低噪聲厚膜電阻器穩(wěn)定性和精確阻值不斷提升

來源：萬利隆電子人氣：發(fā)布時間：2021-03-29

低噪聲厚膜電阻器是目前很多電子設(shè)備經(jīng)常使用的一直電阻器，MIM器件絕緣層中陷阱的存在與厚阻膜總噪聲譜中的洛倫茲項(xiàng)有關(guān)。這些術(shù)語的存在由中提供的數(shù)據(jù)確認(rèn)。通過對電學(xué)和機(jī)械同時應(yīng)變的低噪聲厚膜電阻器的電流噪聲譜測量，詳細(xì)的實(shí)驗(yàn)和數(shù)值分析表明，應(yīng)變會影響噪聲譜的形狀和水平。因此，低頻噪聲參數(shù)對施加應(yīng)變引起的退化很敏感。所得結(jié)果與實(shí)測噪聲指標(biāo)值一致，對當(dāng)代厚阻膜的敏感應(yīng)用具有重要意義。在可逆電阻變化經(jīng)常掩蓋厚膜電阻退化過程的情況下，低頻噪聲測量可以作為檢測持續(xù)可靠性問題的有用工具。

低噪聲厚膜電阻器在制造精確、可靠的最新通信系統(tǒng)中，廣泛使用的常規(guī)厚膜電阻的穩(wěn)定性和精確阻值是非常重要的。不同的應(yīng)用條件導(dǎo)致需要研究它們在應(yīng)力下的行為，特別是在機(jī)械和電氣應(yīng)變的影響下。低噪聲厚膜電阻器由于電荷輸運(yùn)條件的改變，機(jī)械應(yīng)變導(dǎo)致電阻的可逆變化。它主要通過改變玻璃屏障的寬度來影響隧道穿越。電張力由于屏障高度的改變而導(dǎo)致不可逆的電阻變化。

同時，機(jī)械和電應(yīng)力低噪聲厚膜電阻器以兩種相反的方式受到影響;機(jī)械應(yīng)變可逆地改變障壁寬度，而電氣應(yīng)變不可逆地影響障壁高度。記住，穿越玻璃屏障的隧道主要受同時拉伸的影響;同時應(yīng)變的影響可以通過使用具有包括金屬傳導(dǎo)和穿越玻璃屏障隧道的中等薄片電阻進(jìn)行最佳評估。低噪聲厚膜電阻器給出的結(jié)果可以看作是對電阻、規(guī)范系數(shù)和低頻噪聲參數(shù)噪聲指數(shù)和電流噪聲譜之間的相關(guān)性的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，以及這三種類型的應(yīng)變影響下電阻退化的變化。此外，它們可以被視為對早期假設(shè)的驗(yàn)證，即標(biāo)準(zhǔn)電阻、噪聲譜和噪聲指數(shù)測量是厚電阻膜可靠性評估的寶貴工具。

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